玉崎現(xiàn)貨  NITTOSEIKO日東精工  低電阻率計(jì)

玉崎現(xiàn)貨  NITTOSEIKO日東精工  低電阻率計(jì)

目的

Loresta-GXII是一款測量電阻率的測量儀器，電阻率是材料的評估標(biāo)準(zhǔn)之一。

　隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，在研發(fā)、生產(chǎn)技術(shù)、質(zhì)量控制等領(lǐng)域，越來越需要能夠輕松、快速、日益嚴(yán)格、高精度地管理材料。其中，電阻率（表面、體積、電導(dǎo)率）是表示材料狀態(tài)和性質(zhì)的指標(biāo)。 Loresta-GXII 是一種可以使用校正系數(shù)輕松準(zhǔn)確地測量電阻率的設(shè)備。

  該裝置采用符合JIS K 7194的測量方法，可以使用各種探頭測量導(dǎo)電塑料、ITO薄膜和硅晶片等多種材料。

  與傳統(tǒng)的4端子法不同，無需為測量對象準(zhǔn)備電極，使用本公司提供的各種4點(diǎn)探頭即可一鍵測量電阻率。

主要測量目標(biāo)

■導(dǎo)電塑料、電磁屏蔽材料、硅片、導(dǎo)電橡膠、
導(dǎo)電涂料、漿料、油墨、金屬薄膜、ITO玻璃、薄膜等。

特征

可以隨時(shí)隨地以高精度測量低電阻區(qū)域的表面電阻率、體積電阻率（比電阻）和電導(dǎo)率。

• 與Loresta GP（10 -3至 10 7 ）相比，測量范圍從 10 -4擴(kuò)大至 10 7 Ω

• 通過改變電流方向即可測量硅片

• 恒定電流可變功能（可使用微小電流進(jìn)行樣品測量）

• 可輸出2000個(gè)測量結(jié)果至USB存儲器

• 通過觸摸屏提高操作性

選項(xiàng)

探頭 *GX 探頭不能連接到 GXⅡ。

名稱/產(chǎn)品簡稱GX 用 ASP 探頭 RMH110
，GX Ⅱ用 GP ASR 探頭 RMH501

規(guī)格
符合 JIS K 7194
引腳間距：5 毫米
引腳尖：0.37R x 4 件
彈簧壓力：220 克/件
應(yīng)用特性包括
導(dǎo)電塑料、導(dǎo)電涂料、薄膜等。 標(biāo)準(zhǔn)探頭兼容 JIS K7194。

名稱/產(chǎn)品縮寫

ESP 探頭 RMH114 for GX,GP
ESR 探頭
RMH502 for GXⅡ

規(guī)格
引腳間：5mm
引腳尖：φ2mm x 4
彈簧壓力：230g/件    
應(yīng)用
異質(zhì)樣品，如混合有碳粉、金屬粉末等的導(dǎo)電塑料（特別是注塑產(chǎn)品）
特點(diǎn)
引腳尖直徑為 2 mm 由于表面形狀，施加的電流容易流動。

名稱/產(chǎn)品簡稱

GX用LSP探頭 RMH116 ，GXⅡ用GP
LSR探頭
RMH503

規(guī)格
引腳間距：5mm
引腳尖：球 D2mm x 4 件彈簧壓力： 140g
/件  
應(yīng)用
導(dǎo)電橡膠和薄膜等 軟樣品 很難卡在橡膠中。

名稱/產(chǎn)品代碼

PSP 探頭 RMH112 for GX,GP
PSR 探頭
RMH504 for GXⅡ

規(guī)格
引腳間距：1.5mm引腳尖
：0.26R x 4
彈簧壓力：95g/個(gè)
應(yīng)用
薄膜、小樣品、狹窄空間
特點(diǎn)
薄膜用標(biāo)準(zhǔn)探針，引腳很細(xì)，引腳之間的距離為 1.5 mm 。

名稱/產(chǎn)品簡稱

GX用QP2探頭 RMH119 ，GXⅡ用GP
QR探頭
RMH505

規(guī)格
針腳間：1.5mm
針尖：0.26R x 4
彈簧壓力：95g/個(gè)
應(yīng)用 方形，特別適用于
小樣品和狹窄空間。電阻值約為4針串聯(lián)引腳的一半，手持式無法支持校正系數(shù)，因此不建議使用。

名稱/產(chǎn)品簡稱

GX用BSP探頭 RMH111 ，GXⅡ用GP
BSR探頭
RMH506

規(guī)格
： 引腳間距：2.5mm
引腳尖：0.37R x 4
彈簧壓力：170g/引腳
應(yīng)用：
兩個(gè)遠(yuǎn)點(diǎn)之間的測量、前后表面之間的測量（層間電阻）、
4 個(gè)
引腳分為 2 個(gè)，像測試儀一樣測量右手拿著一張，左手拿著一張。至于主機(jī)，GXII 更方便，因?yàn)榭梢允褂媚_踏開關(guān)。

注）無法測量電阻率。

名稱/產(chǎn)品簡稱

GX用NSCP探頭 RMJ202 ，GXⅡ用GP
NSCR探頭
RMH507

規(guī)格
： 引腳間距：1.0mm
引腳尖：0.04R x 4 件
彈簧壓力：250g/件僅
適用于硅片，適用于
表面堅(jiān)硬光滑的樣品，如陶瓷 引腳材料為碳化鎢，尖鋒利，堅(jiān)固彈簧壓力。

名稱/產(chǎn)品縮寫
TFP 探頭
RMJ217 for GX（已售完）

規(guī)格
引腳間：1.0mm
引腳尖：0.15R x 4
彈簧壓力：50g/個(gè)
應(yīng)用
用于玻璃基板上的硅片或薄膜

名稱/產(chǎn)品代碼
AP2 探頭
RMH333 for GX,GP
AR 探頭
RMH508 for GXⅡ

規(guī)格
引腳間：10mm
引腳尖φ2 x 2
彈簧壓力：230g/引腳
應(yīng)用
用于 表面處理鋼板和鎂合金等化學(xué)轉(zhuǎn)化涂層
使用
2 端子法進(jìn)行測量，包括接觸電阻，導(dǎo)致電阻值較高。由于電阻值不正確，我們不會將其轉(zhuǎn)換為電阻率。主要用于定性評價(jià)。
注）無法測量電阻率。

名稱/產(chǎn)品簡稱

GX 用 BP 探頭 RMH118 ，GX Ⅱ用 GP
BR 探頭
RMH509

規(guī)格
針尖：φ2 x 2
彈簧壓力：200g/針
用途
2 點(diǎn)探頭
用于表面處理鋼板和鎂合金等化學(xué)轉(zhuǎn)化涂層上兩個(gè)遠(yuǎn)點(diǎn)之間的測量 用于使用 2 端子
法 注）無法測量電阻率。