FISCHERSCOPE菲希爾 XDVM測厚儀，是針對高要求用戶設(shè)計的，能夠測量極精密的樣品，如：微形部件或線路板上極微細(xì)的表面結(jié)構(gòu)，它的新穎X－射線光學(xué)鏡片，創(chuàng)新的X-射線光學(xué)原理，使這部儀器能產(chǎn)生非常小，但高輻射強度的測量點，所以，測量數(shù)十微米的面積的結(jié)構(gòu)也變成可能。配備了半導(dǎo)體接收器適合測量薄到數(shù)NM的鍍層，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XDVM測厚儀，還能測量出范圍從元素氯（Z＝13）至鈾（Z ＝92）。主要應(yīng)用于線路板測試、極細(xì)的鉛框一片片的掃描（面積），如：硬盤鍍層、細(xì)微的線。有*精度，可編程的XYZ測量臺及大移動范圍，測量室為長方形內(nèi)槽設(shè)計，容許放入大面積的物件進行測量。：王生：   ：     地址：寶安中心區(qū)宏發(fā)中心大廈