膜厚測(cè)量?jī)x,鍍層厚度檢測(cè)儀
【簡(jiǎn)單介紹】
【詳細(xì)說(shuō)明】
膜厚測(cè)量?jī)x,鍍層厚度檢測(cè)儀,金屬膜厚儀快速無(wú)損地分析珠寶首飾、貴金屬而設(shè)計(jì)。這些首飾和貴金屬包括黃白金,鉑和銀,銠,硬幣以及所有的首飾合金和鍍層。 可測(cè)量:?jiǎn)我诲儗樱篫n, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
二元合金層:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。
三元合金層:例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
雙鍍層,其中一個(gè)鍍層為合金層:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。
zui多24種鍍層(使用WinFTM? V.6軟件)。
鍍層厚度測(cè)量?jī)x,金屬膜厚儀分析多達(dá)4種(或24種-使用V.6軟件)元素 膜厚測(cè)量?jī)x,鍍層厚度檢測(cè)儀,是一款可靠的采用X-射線熒光方法和*的微聚焦X-射線光學(xué)方法來(lái)測(cè)量和分析微觀結(jié)構(gòu)鍍層的測(cè)量系統(tǒng)。
它的出現(xiàn)解決了分析和測(cè)量日趨小型化的電子部件,包括線路板,芯片和連接器等帶來(lái)的挑戰(zhàn)。這種創(chuàng)新技術(shù)的,目前正在申請(qǐng)的X-射線光學(xué)可以使得在很小的測(cè)量面積上產(chǎn)生很大的輻射強(qiáng)度,這就可以在小到幾?reg;微米的結(jié)構(gòu)上進(jìn)行測(cè)量。
在經(jīng)濟(jì)上遠(yuǎn)遠(yuǎn)優(yōu)于多元毛細(xì)透鏡的Fischer專有X-射線光學(xué)設(shè)計(jì)使得能夠在非常精細(xì)的結(jié)構(gòu)上進(jìn)行厚度測(cè)量和成分分析。XDVM-μ可以勝任測(cè)量傳統(tǒng)的鍍層厚度測(cè)量?jī)x器由于X-射線熒光強(qiáng)度不夠而無(wú)法測(cè)量到的結(jié)構(gòu)。
具有強(qiáng)大功能的X-射線XDVM-μ帶WinFTM? V6 軟件可以分析包含在金屬鍍層或合金鍍層中多達(dá)24種獨(dú)立元素的多鍍層的厚度和成分。有需要的有友請(qǐng)希望我們能成為*的合作伙伴
讓客戶滿意,為客戶創(chuàng)造zui大的價(jià)值是金霖始終追求的目標(biāo),因?yàn)槲覀儓?jiān)信,客戶的需要就是我們前進(jìn)的動(dòng)力。愿我們成為真誠(chéng)的合作伙伴、共同描繪雙方的發(fā)展藍(lán)圖!.:王生: : www.kinglinhk.com 地址:寶安中心區(qū)宏發(fā)中心大廈
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