fischer PMP10膜厚儀使用相位感度電渦流方法是根據(jù)草擬中的ISO/DIS21968規(guī)格所制造的，比較傳統(tǒng)的電渦流DIN EN ISO 2360的測(cè)量方法，這種測(cè)量方法在測(cè)量金屬鍍層厚度方面有明顯的好處。
PHASCOPE PMP10膜厚儀，可選配測(cè)量探頭，其探頭及功能分為以下幾種：
ESD20Cu可測(cè)量非鐵性金屬，如銅、鋁、黃銅等在非導(dǎo)電性材料上的鍍層厚度。
ESD20Zn可測(cè)量鋅、銅、鋁等在鋼或鐵上的鍍層厚度，特別適合測(cè)量粗糙的表面。也可測(cè)量非鐵性高導(dǎo)電率鍍層在非鐵性低導(dǎo)電率材料上的厚度，如銅/黃銅。
ESD20Ni可測(cè)量化學(xué)鎳在鋼或鐵上的鍍層厚度。
1-50μm（0.04-2mils）選用240KHZ
2-100μm（0.08-4mils）選用60KHZ
fischer PMP10膜厚儀ESD2.4可測(cè)量鋅在細(xì)小的鋼零件上的鍍層厚度.因?yàn)樗募?xì)小測(cè)量面積及相位感應(yīng)電渦流測(cè)量法的好處.不同的工件形狀也不需要特別的校正.

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